真空壓力衰減泄漏測試 你感興趣的原理在這里

產品施加壓(ya)縮空氣或氣體是廣泛使(shi)用、準確和(he)方便的泄漏測試方法之一，在整個制造部門都可(ke)以(yi)使(shi)用，以(yi)確保產品質量和(he)安全。

在其簡單(dan)的形式中，壓力(li)衰(shuai)減測(ce)試涉及使(shi)用單(dan)個傳感(gan)器來監控測(ce)試項目中的壓力(li)并檢測(ce)隨(sui)時間的任何下降（絕對壓力(li)衰(shuai)減）。壓力(li)顯著降低表(biao)明泄(xie)漏，因此失敗。

然而(er)，絕對方法(fa)的(de)主要缺點是傳感器必(bi)須(xu)能(neng)夠(gou)(gou)在(zai)初(chu)始化(hua)階段隨著(zhu)壓(ya)(ya)(ya)力(li)(li)的(de)增加而(er)監(jian)測(ce)壓(ya)(ya)(ya)力(li)(li)，并且必(bi)須(xu)足(zu)夠(gou)(gou)靈敏(min)以檢測(ce)測(ce)試階段壓(ya)(ya)(ya)力(li)(li)的(de)微小變化(hua)。測(ce)試壓(ya)(ya)(ya)力(li)(li)可能(neng)在(zai) 8 bar 的(de)范圍內(nei)，檢測(ce)小泄漏需要 0.001 mbar 的(de)靈敏(min)度。不(bu)可能(neng)找到具有這些(xie)特性的(de)傳感器。

絕對壓力衰減法的(de)第二個缺點是絕熱(re)過程(cheng)的(de)影響。當(dang)物品被提(ti)升(sheng)到測試壓力時(shi)，溫度會升(sheng)高(gao)。隨后(hou)的(de)散熱(re)可能會導致測試階段(duan)的(de)壓力下降，儀器會錯誤地將其視(shi)為泄漏。

微分法

使(shi)用(yong)差(cha)壓測(ce)量(liang)來檢測(ce)測(ce)試項目(mu)中的(de)壓力衰減是(shi)靈敏的(de)泄漏檢測(ce)方法之一(yi)，也是(shi)使(shi)用(yong) Furness Controls 系列生產線泄漏測(ce)試儀(yi)常用(yong)的(de)方法。

差分法使用兩個壓力傳感(gan)器(qi)；第一個是(shi)(shi)絕對傳感(gan)器(qi)，其跨度涵蓋(gai)大氣壓和所需(xu)測(ce)(ce)試壓力之間的(de)范圍，第二個是(shi)(shi)高靈(ling)敏(min)度差壓傳感(gan)器(qi) (DPT)，用于在(zai)測(ce)(ce)試階段(duan)檢測(ce)(ce)泄漏。

這種方法(fa)的(de)(de)另一個(ge)特點是(shi)(shi)對(dui)試樣(yang)旁邊的(de)(de)參考部分或體(ti)積進行加壓，差壓傳(chuan)感器(qi)用于檢測兩個(ge)項目之間(jian)壓力的(de)(de)相對(dui)變化。由于測量的(de)(de)是(shi)(shi)密封體(ti)積和(he)泄漏部分之間(jian)的(de)(de)差異，因此壓力傳(chuan)感器(qi)的(de)(de)測量范圍(wei)大(da)大(da)縮小(xiao)，因此可(ke)以具(ju)有(you)更(geng)高的(de)(de)靈敏(min)度來檢測非(fei)常小(xiao)的(de)(de)泄漏。

這種方法的第二個優(you)點是一定程(cheng)度上抵消了絕熱過程(cheng)的影響。任(ren)何(he)升溫和(he)降溫效應(ying)在測試和(he)參考中(zhong)均等發生，因此不會導致(zhi)壓力差。

測試的標準階段

標準差壓衰(shuai)減測試有 3 個主要階(jie)段：

1. 充(chong)滿。填充(chong)閥打開，空氣以(yi)所需的壓力被引入零(ling)件（和(he)參考）。

2. 穩定。填(tian)充閥關閉，將測試項目和參考體(ti)積與壓力(li)源隔離。泄(xie)漏量大(da)（嚴重）的(de)項目在此(ci)階段壓力(li)會下(xia)降(jiang)，測試將無法(fa)進行。此(ci)外，在填(tian)充階段之(zhi)后，零件(jian)在壓力(li)下(xia)的(de)物理(li)變(bian)形可能會繼(ji)續，因此(ci)確(que)保該過(guo)程在測試階段開始之(zhi)前完成是(shi)有益的(de)。

3. 測試(shi)階(jie)段。測試(shi)閥關閉，壓(ya)差傳感器監(jian)測測試(shi)項目和(he)參考體積之間的相(xiang)對壓(ya)力。

選擇參考體積

使用我們的一種檢漏儀測試部件時，測試的參考端需要考慮三種可能(neng)性：

1. 檢漏儀的內部容積。對(dui)于(yu)大多數(shu)部件(jian)，關(guan)閉參考端口并針對(dui)檢漏儀的內部體積進行差分(fen)泄漏測試就足夠了(le)。

2. 外(wai)部(bu)參考(kao)體(ti)(ti)積(ji)。如果差壓傳感(gan)器參考(kao)側(ce)的體(ti)(ti)積(ji)與測試(shi)側(ce)的體(ti)(ti)積(ji)相差不大，則可(ke)以獲(huo)得更準確的結(jie)果，因此對(dui)于較大的測試(shi)項目，可(ke)以安裝外(wai)部(bu)參考(kao)體(ti)(ti)積(ji)。

3. 一(yi)個已知的好項(xiang)(xiang)(xiang)目(mu)。在蠕變和絕熱效應需要(yao)很長時間(jian)才能(neng)穩定的情況下，可(ke)以通過(guo)將另一(yi)個測試(shi)項(xiang)(xiang)(xiang)目(mu)連(lian)接到參考端口(kou)來(lai)獲得更(geng)快且可(ke)能(neng)更(geng)準確(que)的結(jie)果。此項(xiang)(xiang)(xiang)目(mu)必須通過(guo)其(qi)他方法驗證為不泄漏。

• 上一篇：如何大幅度節省成本，真空衰減法密封性測試的優勢在哪里？
• 下一篇：凍干產品的容器完整性測試之真空衰減法密封性測試